Startseite UR

Atomic Force Microscopy-(7x7) Surface by Atomic Force Microscopy

URN zum Zitieren dieses Dokuments: urn:nbn:de:bvb:355-epub-338281

Giessibl, Franz J. (1995) Atomic Force Microscopy-(7x7) Surface by Atomic Force Microscopy. Science 267 (5194), S. 68-71.

[img]
Vorschau
PDF
Download (1MB)

Zum Artikel beim Verlag (über DOI)

Andere URL zum Volltext: http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/17840059


Zusammenfassung

Achieving high resolution under ultrahigh-vacuum conditions with the force microscope can be difficult for reactive surfaces, where the interaction forces between the tip and the samples can be relatively large. A force detection scheme that makes use of a modified cantilever beam and senses the force gradient through frequency modulation is described. The reconstructed silicon (111)-(7x7) ...

plus


Bibliographische Daten exportieren



Dokumentenart:Artikel
Datum:6 Januar 1995
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1126/science.267.5194.68DOI
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:31 Mai 2016 08:20
Zuletzt geändert:08 Mrz 2017 08:40
Dokumenten-ID:33828
Nur für Besitzer und Autoren: Kontrollseite des Eintrags

Downloads

Downloads im Monat während des letzten Jahres

  1. Universität

Universitätsbibliothek

Publikationsserver

Kontakt:

Publizieren: oa@ur.de

Dissertationen: dissertationen@ur.de

Forschungsdaten: daten@ur.de

Ansprechpartner