Startseite UR

Atomic Resolution of the Silicon (111 )-(7x 7) Surface by Atomic Force Microscopy

URN zum Zitieren dieses Dokuments:
urn:nbn:de:bvb:355-epub-338281
DOI zum Zitieren dieses Dokuments:
10.5283/epub.33828
Giessibl, Franz J.
[img]
Vorschau
PDF
(1MB)
Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 31 Mai 2016 08:20


Zusammenfassung

Achieving high resolution under ultrahigh-vacuum conditions with the force microscope can be difficult for reactive surfaces, where the interaction forces between the tip and the samples can be relatively large. A force detection scheme that makes use of a modified cantilever beam and senses the force gradient through frequency modulation is described. The reconstructed silicon (111)-(7x7) ...

plus


Nur für Besitzer und Autoren: Kontrollseite des Eintrags
  1. Universität

Universitätsbibliothek

Publikationsserver

Kontakt:

Publizieren: oa@ur.de
0941 943 -4239 oder -69394

Dissertationen: dissertationen@ur.de
0941 943 -3904

Forschungsdaten: datahub@ur.de
0941 943 -5707

Ansprechpartner