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Amplitude dependence of image quality in atomically-resolved bimodal atomic force microscopy

URN zum Zitieren dieses Dokuments: urn:nbn:de:bvb:355-epub-348619

Ooe, Hiroaki, Kirpal, Dominik, Wastl, Daniel S., Weymouth, Alfred J. , Toyoko, Arai und Giessibl, Franz J. (2016) Amplitude dependence of image quality in atomically-resolved bimodal atomic force microscopy. Applied Physics Letters 109, S. 141603.

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Zusammenfassung

In bimodal frequency modulation atomic force microscopy (FM-AFM), two flexural modes are excited simultaneously. We show atomically resolved images of KBr(100) in ambient conditions in both modes that display a strong correlation between the image quality and amplitude. We define the sum amplitude as the sum of the amplitudes of both modes. When the sum amplitude becomes larger than about 100 pm, ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:20 Mai 2016
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Projekte:GRK 1570, Elektronische Eigenschaften von Nanostrukturen auf Kohlenstoff-Basis
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1063/1.4964125DOI
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Ja
Eingebracht am:21 Nov 2016 12:33
Zuletzt geändert:08 Mrz 2017 08:41
Dokumenten-ID:34861
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