Non-contact lateral force microscopy
Artikel
Weymouth, Alfred J.
(2017)
Non-contact lateral force microscopy.
Journal of Physics: Condensed Matter 29 (32), S. 323001.
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Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Artikel | ||||
| Titel eines Journals oder einer Zeitschrift | Journal of Physics: Condensed Matter | ||||
| Verlag | IOP Publishing | ||||
| Band | 29 | ||||
| Nummer des Zeitschriftenheftes oder des Kapitels | 32 | ||||
| Seitenbereich | S. 323001 | ||||
| Datum | 17 Juli 2017 | ||||
| Veröffentlichungsdatum | 04 Nov 2021 06:37 | ||||
| Institutionen | Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl | ||||
| Identifikationsnummer |
| ||||
| Stichwörter / Keywords | atomic force microscopy, scanning probe microscopy, lateral force microscopy, surface science | ||||
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik | ||||
| Status | Veröffentlicht | ||||
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet | ||||
| An der Universität Regensburg entstanden | Zum Teil | ||||
| Dokumenten-ID | 50962 |
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