Startseite UR

The qPlus sensor, a powerful core for the atomic force microscope

URN zum Zitieren dieses Dokuments:
urn:nbn:de:bvb:355-epub-509662
DOI zum Zitieren dieses Dokuments:
10.5283/epub.50966
Giessibl, Franz J.
[img]
Vorschau
PDF - Veröffentlichte Version
(7MB)
Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 05 Nov 2021 05:28



Zusammenfassung

Atomic force microscopy (AFM) was introduced in 1986 and has since made its way into surface science, nanoscience, chemistry, biology, and material science as an imaging and manipulating tool with a rising number of applications. AFM can be employed in ambient and liquid environments as well as in vacuum and at low and ultralow temperatures. The technique is an offspring of scanning tunneling ...

plus


Nur für Besitzer und Autoren: Kontrollseite des Eintrags
  1. Universität

Universitätsbibliothek

Publikationsserver

Kontakt:

Publizieren: oa@ur.de
0941 943 -4239 oder -69394

Dissertationen: dissertationen@ur.de
0941 943 -3904

Forschungsdaten: datahub@ur.de
0941 943 -5707

Ansprechpartner