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- URN zum Zitieren dieses Dokuments:
- urn:nbn:de:bvb:355-epub-520837
- DOI zum Zitieren dieses Dokuments:
- 10.5283/epub.52083
Zusammenfassung (Deutsch)
Die Rasterkraftmikroskopie erlaubt die Untersuchung von Oberflächen im Nanometer-Bereich. In dieser Arbeit wurden Messung mit dem selbstdetektierenden qPlus-Sensor unter Umgebungsbedingungen und im Ultrahochvakuum bei Raumtemperatur durchgeführt. Dieser Sensor erlaubt im dynamischen Betrieb Schwingungsamplituden im Picometer-Bereich und erreicht somit eine hohe Sensitivität gegenüber den auf ...
Übersetzung der Zusammenfassung (Englisch)
Dynamic atomic force microscopy is a powerful tool to investigate surfaces on a nanoscopic scale. In this thesis the experiments were performed with a self-sensing qPlus sensor at room temperature in air and in ultra-high vacuum. Small amplitudes in the picometer range allow a high sensibility against short range forces. The oscillation direction of the sensor determines if lateral or vertical ...