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- URN zum Zitieren dieses Dokuments:
- urn:nbn:de:bvb:355-epub-578421
- DOI zum Zitieren dieses Dokuments:
- 10.5283/epub.57842
Diese Publikation ist Teil des DEAL-Vertrags mit Springer.
Zusammenfassung
Atomic force microscopy is one of the most important tools in nanoscience. It employs an atomic probe that can resolve surfaces with atomic and subatomic spatial resolution and manipulate atoms. The qPlus sensor is a quartz-based self-sensing cantilever with a high stiffness that, in contrast to Si cantilevers, allows to oscillate at atomic radius amplitudes in the proximity of reactive surfaces ...
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