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- URN zum Zitieren dieses Dokuments:
- urn:nbn:de:bvb:355-epub-748108
- DOI zum Zitieren dieses Dokuments:
- 10.5283/epub.74810
Zusammenfassung (Englisch)
This thesis presents high-precision lateral force microscopy (LFM) measurements using atomically characterized tips, focusing on the atomic-scale mechanisms underlying frictional forces. The research investigates the role of atomic interactions on LFM contrast as a function of tip-sample distance, explores friction across single chemical bonds, and examines the contribution of phonons to ...

Übersetzung der Zusammenfassung (Deutsch)
Diese Dissertation präsentiert hochpräzise Messungen der lateralen Kraftmikroskopie (lateral force microscopy - LFM) unter Verwendung atomar charakterisierter Spitzen und konzentriert sich auf die Mechanismen der Reibungskräfte auf atomarer Ebene. Die Forschung untersucht die Rolle atomarer Wechselwirkungen auf den LFM-Kontrast in Abhängigkeit vom Spitzen-Proben-Abstand, erforscht die Reibung ...


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