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Friction measurement with single atom resolution

URN zum Zitieren dieses Dokuments:
urn:nbn:de:bvb:355-epub-748108
DOI zum Zitieren dieses Dokuments:
10.5283/epub.74810
Nam, Shinjae
Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 08 Jan 2026 09:24


Zusammenfassung (Englisch)

This thesis presents high-precision lateral force microscopy (LFM) measurements using atomically characterized tips, focusing on the atomic-scale mechanisms underlying frictional forces. The research investigates the role of atomic interactions on LFM contrast as a function of tip-sample distance, explores friction across single chemical bonds, and examines the contribution of phonons to ...

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Übersetzung der Zusammenfassung (Deutsch)

Diese Dissertation präsentiert hochpräzise Messungen der lateralen Kraftmikroskopie (lateral force microscopy - LFM) unter Verwendung atomar charakterisierter Spitzen und konzentriert sich auf die Mechanismen der Reibungskräfte auf atomarer Ebene. Die Forschung untersucht die Rolle atomarer Wechselwirkungen auf den LFM-Kontrast in Abhängigkeit vom Spitzen-Proben-Abstand, erforscht die Reibung ...

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