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KPI-Driven Visualizations for Root Cause Analysis in Manufacturing Processes
Mucha, Kacper, Böhmer, Kristof und Leitner, Maria
(2026)
KPI-Driven Visualizations for Root Cause Analysis in Manufacturing Processes.
In: Enterprise Design, Operations, and Computing. EDOC 2025 Workshops, September 9–12, 2025, Lisbon, Portugal.
Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 14 Jul 2026 04:25
Konferenz- oder Workshop-Beitrag
Beteiligte Einrichtungen
Details
| Dokumentenart | Konferenz- oder Workshop-Beitrag (Paper) |
| ISBN | 978-3-032-16233-5, 978-3-032-16234-2 |
| Buchtitel: | Enterprise Design, Operations, and Computing. EDOC 2025 Workshops |
|---|---|
| Verlag: | Springer |
| Ort der Veröffentlichung: | Cham |
| Sonstige Reihe: | Lecture Notes in Business Information Processing |
| Band: | 571 |
| Seitenbereich: | S. 474-489 |
| Datum | 2026 |
| Institutionen | Informatik und Data Science Informatik und Data Science > Fachbereich Wirtschaftsinformatik Informatik und Data Science > Fachbereich Wirtschaftsinformatik > Lehrstuhl für KI in der IT-Sicherheit (Prof. Dr. Maria Leitner) |
| Stichwörter / Keywords | Anomaly Detection, Manufacturing, Process Mining, Root Cause Analysis |
| Dewey-Dezimal-Klassifikation | 000 Informatik, Informationswissenschaft, allgemeine Werke > 004 Informatik 300 Sozialwissenschaften > 330 Wirtschaft |
| Status | Veröffentlicht |
| Begutachtet | Ja, diese Version wurde begutachtet |
| An der Universität Regensburg entstanden | Zum Teil |
| Dokumenten-ID | 79772 |
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