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Artikel
Giessibl, Franz J.
(2006)
Higher-harmonic atomic force microscopy.
Surface and Interface Analysis 38 (12-13), S. 1696-1701.
Volltext nicht vorhanden.
Schmid, Martin, Renner, Andreas und Giessibl, Franz J.
(2006)
Device for in situ cleaving of hard crystals.
Review of Scientific Instruments 77 (3), 036101-1-036101-7.
Zotti, Linda A., Hofer, Werner A. und Giessibl, Franz J.
(2006)
Electron scattering in scanning probe microscopy experiments.
Chemical Physics Letters 420 (1-3), S. 177-182.
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