Anzahl der Einträge: 3.
Artikel
Gehlmann, Mathias,
Aguilera, Irene ,
Bihlmayer, Gustav ,
Nemšák, Slavomír ,
Nagler, Philipp,
Gospodarič, Pika ,
Zamborlini, Giovanni ,
Eschbach, Markus,
Feyer, Vitaliy,
Kronast, Florian,
Młyńczak, Ewa,
Korn, Tobias ,
Plucinski, Lukasz ,
Schüller, Christian,
Blügel, Stefan und
Schneider, Claus M.
(2017)
Direct Observation of the Band Gap Transition in Atomically Thin ReS2.
Nano Letters 17 (9), S. 5187-5192.
Volltext nicht vorhanden.
Buchkapitel
Giessibl, Franz J.
(2003)
B2. Principle of High-Resolution Atomic Force Microscopy.
In:
Blügel, Stefan und
Luysberg, Martina und
Urban, Knut und
Waser, Rainer, (eds.)
Fundamentals of nanoelectronics : lecture manuscripts of the 34th spring school of the Department of Solid State Research / Forschungszentrum Jülich GmbH, Institut für Festkörperforschung.
Schriften des Forschungszentrums Jülich : Reihe Materie und Material, 14 (B2).
Forschungszentrum, Zentralbibliothek, Jülich.
ISBN 3-89336-319-X.
Volltext nicht vorhanden.
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