Anzahl der Einträge: 4.
Schaffus, T.,
Albert, P.,
Breuer, W.,
Debie, D.,
Graml, M.,
Hollerith, C.,
Kroninger, F.,
Mack, W.,
Pfaff, H.,
Schaffus, M. und
Walter, J.
(2018)
Influence of sample preparation on intrinsic stresses inside a model Chip - First results of partial decapsulation.
Microelectronics Reliability 88-90, S. 299-303.
Volltext nicht vorhanden.
Zenger, M.,
Breuer, W.,
Zölfl, M.,
Pulwey, Ralph,
Raabe, Jörg und
Weiss, Dieter
(2001)
Electrodeposition of NiFe and Fe nanopilars.
IEEE Transactions on Magnetics 37, S. 2094.
Volltext nicht vorhanden.
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