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Einträge von Ebersberger, Bernd auf dem Publikationsserver
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Gehe zu: 2001
Anzahl der Einträge: 1.
2001
Olbrich, Alexander, Ebersberger, Bernd, Boit, Christian, Vancea, Johann, Hoffmann, Horst, Altmann, Hans, Gieres, Guenther und Wecker, Joachim
(2001)
Oxide thickness mapping of ultrathin Al2O3 at nanometer scale with conducting atomic force microscopy.
Applied Physics Letters 78 (19), S. 2934-2936.
Volltext nicht vorhanden.
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