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Artikel
Schwarz, Uli,
Schuck, P.,
Mason, M.,
Grober, R.,
Roskowsky, A.,
Einfeldt, S. und
Davis, R.
(2003)
Microscopic mapping of strain relaxation in uncoalesced pendeoepitaxial GaN on SiC.
Physical Review B 67, S. 45321.
Roskowsky, A.,
Miraglia, P.,
Preble, E.,
Einfeldt, S.,
Stiles, T.,
Davis, R.,
Schuck, J.,
Grober, R. und
Schwarz, Uli
(2001)
Strain and dislocation reduction in maskless pendeo-epitaxy GaN thin films.
phys. stat. sol. (a) 188, S. 729.
Volltext nicht vorhanden.
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