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Publikationen von Ihle, Sebastian

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Müller, Knut, Ryll, Henning, Ordavo, Ivan, Ihle, Sebastian, Strüder, Lothar, Volz, Kerstin und Zweck, Josef (2012) Scanning transmission electron microscopy strain measurement from millisecond frames of a direct electron charge coupled device. Applied Physics Letters 101, S. 212110.

Diese Liste wurde erzeugt am Thu Apr 18 06:51:37 2024 CEST.
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