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Einträge von Illek, Esther auf dem Publikationsserver

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Welker, Joachim, Illek, Esther und Giessibl, Franz J. (2012) Analysis of force-deconvolution methods in frequency-modulation atomic force microscopy. Beilstein Journal of Nanotechnology 3, S. 238-248.

Diese Liste wurde erzeugt am Thu Dec 26 18:40:00 2024 CET.
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