Einträge von Lechner, Lorenz auf dem Publikationsserver
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Lechner, Lorenz, Gaaß, Markus, Paila, Antti, Sillanpää, Mika A., Strunk, Christoph und Hakonen, Pertti J.
(2011)
Microwave reflection measurement of critical currents in a nanotube Josephson transistor with a resistive environment.
Nanotechnology 22 (12), S. 125203.
Volltext nicht vorhanden.
Lechner, Lorenz, Gaaß, Markus, Paila, Antti, Sillanpää, Mika A., Strunk, Christoph 
und Hakonen, Pertti J.
(2011)
Microwave reflection measurement of critical currents in a nanotube Josephson transistor with a resistive environment.
Nanotechnology 22 (12), S. 125203.
Volltext nicht vorhanden.
und Hakonen, Pertti J.
(2011)
Microwave reflection measurement of critical currents in a nanotube Josephson transistor with a resistive environment.
Nanotechnology 22 (12), S. 125203.
Volltext nicht vorhanden.