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2016

Schwab, S., Jung, J., Gruber, S., Bauer, M., Miethaner, S., Nelhiebel, M. und Hutter, H. (2016) Investigation of Electric Field Induced Ion Migration in Semiconductor Encapsulation Materials without the Interference of Electron Conductivity. ECS Journal of Solid State Science and Technology 5 (10), N72-N76. Volltext nicht vorhanden.

Diese Liste wurde erzeugt am Thu Dec 26 20:34:30 2024 CET.
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