Anzahl der Einträge: 2.
2011
Lechner, Lorenz,
Gaaß, Markus,
Paila, Antti,
Sillanpää, Mika A.,
Strunk, Christoph und
Hakonen, Pertti J.
(2011)
Microwave reflection measurement of critical currents in a nanotube Josephson transistor with a resistive environment.
Nanotechnology 22 (12), S. 125203.
Volltext nicht vorhanden.
Lechner, Lorenz,
Gaaß, Markus,
Paila, Antti,
Sillanpää, Mika A,
Strunk, Christoph und
Hakonen, Pertti J
(2011)
Microwave reflection measurement of critical currents in a nanotube Josephson transistor with a resistive environment.
Nanotechnology 22 (12), S. 125203.
Volltext nicht vorhanden.
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