Einträge von Roskowsky, A. auf dem Publikationsserver

Schwarz, Uli , Schuck, P., Mason, M., Grober, R., Roskowsky, A., Einfeldt, S. und Davis, R. (2003) Microscopic mapping of strain relaxation in uncoalesced pendeoepitaxial GaN on SiC. Physical Review B 67, S. 45321.

Roskowsky, A., Miraglia, P., Preble, E., Einfeldt, S., Stiles, T., Davis, R., Schuck, J., Grober, R. und Schwarz, Uli (2001) Strain and dislocation reduction in maskless pendeo-epitaxy GaN thin films. phys. stat. sol. (a) 188, S. 729. Volltext nicht vorhanden.