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Artikel
Remškar, Maja ,
Jelenc, Janez,
Czepurnyi, Nikolai,
Malok, Matjaž ,
Pirker, Luka,
Schreiner, Rupert und
Hüttel, Andreas K.
(2024)
Modulations of the work function and morphology of a single MoS2 nanotube by charge injection.
Nanoscale Advances.
Remskar, Maja,
Hüttel, Andreas K.,
Shubina, Tatiana V.,
Seabaugh, Alan,
Fathipour, Sara,
Lawrowski, Robert und
Schreiner, Rupert
(2022)
Confinement Related Phenomena in MoS2 Tubular Structures Grown from Vapour Phase.
Israel Journal of Chemistry 62 (3-4).
Volltext nicht vorhanden.
Kleshch, Victor I.,
Serbun, Pavel,
Lützenkirchen‐Hecht, Dirk,
Orekhov, Anton S.,
Ivanov, Victor E.,
Prommesberger, Christian,
Langer, Christoph,
Schreiner, Rupert und
Obraztsov, Alexander N.
(2019)
A Comparative Study of Field Emission From Pristine, Ion‐Treated and Tungsten Nanoparticle‐Decorated p‐Type Silicon Tips.
physica status solidi (b) 256 (9), S. 1800646.
Volltext nicht vorhanden.
Breuer, Janis,
Bachmann, Michael,
Düsberg, Felix,
Pahlke, Andreas,
Edler, Simon,
Langer, Christoph,
Prommesberger, Christian,
Ławrowski, Robert,
Schreiner, Rupert,
Serbun, Pavel und
Lützenkirchen-Hecht, Dirk
(2018)
Extraction of the current distribution out of saturated integral measurement data of p-type silicon field emitter arrays.
Journal of Vacuum Science & Technology B 36 (5), 051805.
Volltext nicht vorhanden.
Bieker, Johannes,
Roustaie, Farough,
Schlaak, Helmut F.,
Langer, Christoph,
Schreiner, Rupert,
Lotz, Marcel und
Wilfert, Stefan
(2018)
Field emission characterization of in situ deposited gold nanocones with variable cone densities.
Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena 36 (2), 02C105.
Volltext nicht vorhanden.
Langer, Christoph,
Prommesberger, Christian,
Ławrowski, Robert,
Schreiner, Rupert,
Serbun, Pavel,
Müller, Günter,
Düsberg, Felix,
Hofmann, Martin,
Bachmann, Michael und
Pahlke, Andreas
(2016)
Field emission properties of p-type black silicon on pillar structures.
Journal of Vacuum Science & Technology B, Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena 34 (2), 02G107.
Volltext nicht vorhanden.
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