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Einträge von Sillanpää, Mika A auf dem Publikationsserver

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Lechner, Lorenz, Gaaß, Markus, Paila, Antti, Sillanpää, Mika A, Strunk, Christoph und Hakonen, Pertti J (2011) Microwave reflection measurement of critical currents in a nanotube Josephson transistor with a resistive environment. Nanotechnology 22 (12), S. 125203. Volltext nicht vorhanden.

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