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Heinzel, Thomas, Lüscher, Silvia, Fuhrer, Andreas, Salis, Gian, Held, Ryan, Ensslin, Klaus und Wegscheider, Werner (2000) Nano-oxidation of semiconductor heterostructures with atomic force microscopes: technology and applications. In: Andrews, David L. und Asakura, Toshimitsu und Jutamulia, Suganda und Kirk, Wiley P. und Lagally, Max G. und Lal, Ravindra B. und Trolinger, James D., (eds.) Optical devices and diagnostics in materials science: 1-4 August2000, San Diego, USA. SPIE proceedings series, 4098. Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers, Bellingham, Washington, S. 52. ISBN 0-8194-3743-3. Volltext nicht vorhanden.

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