Entries of Urban, Knut on the publication server

Giessibl, Franz J. (2003) B2. Principle of High-Resolution Atomic Force Microscopy. In: Blügel, Stefan and Luysberg, Martina and Urban, Knut and Waser, Rainer, (eds.) Fundamentals of nanoelectronics : lecture manuscripts of the 34th spring school of the Department of Solid State Research / Forschungszentrum Jülich GmbH, Institut für Festkörperforschung. Schriften des Forschungszentrums Jülich : Reihe Materie und Material, 14 (B2). Forschungszentrum, Zentralbibliothek, Jülich. ISBN 3-89336-319-X. Fulltext not available.