Einträge von Urban, Knut auf dem Publikationsserver

Giessibl, Franz J. (2003) B2. Principle of High-Resolution Atomic Force Microscopy. In: Blügel, Stefan und Luysberg, Martina und Urban, Knut und Waser, Rainer, (eds.) Fundamentals of nanoelectronics : lecture manuscripts of the 34th spring school of the Department of Solid State Research / Forschungszentrum Jülich GmbH, Institut für Festkörperforschung. Schriften des Forschungszentrums Jülich : Reihe Materie und Material, 14 (B2). Forschungszentrum, Zentralbibliothek, Jülich. ISBN 3-89336-319-X. Volltext nicht vorhanden.