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Publikationen von Zankl, Tobias

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Hanekamp, Patrick, Raith, Timo, Iffelsberger, Christian, Zankl, Tobias, Robl, Werner und Matysik, Frank-Michael (2019) Material contrast studies of conductive thin films on semiconductor substrates using scanning electrochemical microscopy. Journal of Applied Electrochemistry 49 (5), S. 455-463. Volltext nicht vorhanden.

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