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Subatomic Features on the Silicon (111)-(7×7) Surface Observed by Atomic Force Microscopy

Giessibl, Franz J. und Hembacher, Stefan und Bielefeldt, Hartmut und Mannhart, Jochen (2000) Subatomic Features on the Silicon (111)-(7×7) Surface Observed by Atomic Force Microscopy. Science 289 (5478), S. 422-425.

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Zusammenfassung

The atomic force microscope images surfaces by sensing the forces between a sharp tip and a sample. If the tip-sample interaction is dominated by short-range forces due to the formation of covalent bonds, the image of an individual atom should reflect the angular symmetry of the interaction. Here, we report on a distinct substructure in the images of individual adatoms on silicon (111)-(7×7), two ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:21 Juli 2000
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Projekte:BMBF 13N6918
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1126/science.289.5478.422DOI
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:10 Jul 2012 13:57
Zuletzt geändert:12 Mai 2016 09:27
Dokumenten-ID:25316
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