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Simultaneous current-, force-, and work-function measurement with atomic resolution

Herz, Markus und Schiller, Christian H. und Giessibl, Franz J. und Mannhart, Jochen (2005) Simultaneous current-, force-, and work-function measurement with atomic resolution. Applied Physics Letters 86 (15), 153101-1-153101-3.

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Zusammenfassung

The local work function of a surface determines the spatial decay of the charge density at the Fermi level normal to the surface. Here, we present a method that enables simultaneous measurements of local work-function and tip-sample forces. A combined dynamic scanning tunneling microscope and atomic force microscope is used to measure the tunneling current between an oscillating tip and the ...

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Dokumentenart:Artikel
Datum:4 April 2005
Institutionen:Physik > Institut für Experimentelle und Angewandte Physik > Lehrstuhl Professor Giessibl > Arbeitsgruppe Franz J. Giessibl
Projekte:BMBF 13N6918
Identifikationsnummer:
WertTyp
10.1063/1.1900316DOI
Dewey-Dezimal-Klassifikation:500 Naturwissenschaften und Mathematik > 530 Physik
Status:Veröffentlicht
Begutachtet:Ja, diese Version wurde begutachtet
An der Universität Regensburg entstanden:Unbekannt / Keine Angabe
Eingebracht am:10 Jul 2012 14:12
Zuletzt geändert:17 Mai 2016 11:07
Dokumenten-ID:25324
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