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2001

Lüscher, Silvia, Held, Ryan, Fuhrer, Andreas, Heinzel, Thomas, Ensslin, Klaus, Bichler, Max und Wegscheider, Werner (2001) Electronic properties of AFM-defined semiconductor nanostructures. Materials Science and Engineering C 15 (1-2), S. 153-157. Zugang zum Volltext eingeschränkt.

Lüscher, Silvia, Fuhrer, Andreas, Heinzel, Thomas, Ensslin, Klaus, Wegscheider, Werner und Bichler, Max (2001) Spin effects in quantum dots with steep potential walls. In: Electronic correlations: from meso- to nano-physics; proceedings of the XXXVIth Rencontres de Moriond, Les Arces, France, January 20-27, 2001. Moriond workshops (Series). EDP Sciences, Les Ulis, S. 367. ISBN 2-86883-570-8. Volltext nicht vorhanden.

Fuhrer, Andreas, Lüscher, Silvia, Heinzel, Thomas, Ihn, Thomas, Ensslin, Klaus, Wegscheider, Werner und Bichler, Max (2001) h/e-periodic oscillations of conductance peak height and position in quantum rings in the coulomb blockade regime. In: 14th International Conference on the Electronic Properties of Two-Dimensional Systems, 30. Juli - 3. August 2001, Prag, Tschechien. Volltext nicht vorhanden.

2000

Heinzel, Thomas, Lüscher, Silvia, Held, Ryan, Fuhrer, Andreas, Ensslin, Klaus, Wegscheider, Werner und Bichler, Max (2000) Electronic Properties of Semiconductor Nanostructures patterned by AFM Lithography. In: 11th International Winterschool on New Developments in Solid State Physics, 21.-25. Februar 2000, Mauterndorf, Österreich. Volltext nicht vorhanden.

Lüscher, Silvia, Held, Ryan, Fuhrer, Andreas, Heinzel, Thomas, Ensslin, Klaus, Bichler, Max und Wegscheider, Werner (2000) Electronic properties of AFM-defined semiconductor nanostructures: quantum wires and single electron transistors. In: International Workshop on the Physics of Low Dimensions, 16.-20. Janurar 2000, Oaxaca, Mexiko. Volltext nicht vorhanden.

Heinzel, Thomas, Lüscher, Silvia, Fuhrer, Andreas, Salis, Gian, Held, Ryan, Ensslin, Klaus und Wegscheider, Werner (2000) Nano-oxidation of semiconductor heterostructures with atomic force microscopes: technology and applications. In: Andrews, David L. und Asakura, Toshimitsu und Jutamulia, Suganda und Kirk, Wiley P. und Lagally, Max G. und Lal, Ravindra B. und Trolinger, James D., (eds.) Optical devices and diagnostics in materials science: 1-4 August2000, San Diego, USA. SPIE proceedings series, 4098. Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers, Bellingham, Washington, S. 52. ISBN 0-8194-3743-3. Volltext nicht vorhanden.

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