Anzahl der Einträge: 1.
Buchkapitel
Ganichev, Sergey,
Ziemann, E.,
Yassievich, Irina,
Schmalz, K. und
Prettl, Wilhelm
(1998)
Characterization of deep impurities in semiconductors by terahertz tunnel ionization.
In:
Ashok, S. und
Chevallier, J. und
Sumino, K. und
Sopori, B. L. und
Goetz, W., (eds.)
Defect and impurity engineered semiconductors II: symposium held [at the 1998 MRS Spring Meeting], April 13-17, 1998, San Francisco, California, U.S.A.
Materials Research Society symposium proceedings, 510.
Materials Research Society, Warrendale, Pa., S. 595.
ISBN 1-558-99416-5.
Volltext nicht vorhanden.
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