Direkt zum Inhalt

Einträge von Hanekamp, Patrick auf dem Publikationsserver

Eine Stufe nach oben
Exportieren als
[feed] Atom [feed] RSS 1.0 [feed] RSS 2.0
Gruppieren nach: Datum | Dokumentenart | Keine Gruppierung
Anzahl der Einträge: 3.

Hanekamp, Patrick (2020) Development and application of an experimental concept for surface characterization of semiconductor based substrates using scanning electrochemical microscopy. Dissertation, Universität Regensburg.

Hanekamp, Patrick, Raith, Timo, Iffelsberger, Christian, Zankl, Tobias, Robl, Werner und Matysik, Frank-Michael (2019) Material contrast studies of conductive thin films on semiconductor substrates using scanning electrochemical microscopy. Journal of Applied Electrochemistry 49 (5), S. 455-463. Volltext nicht vorhanden.

Hanekamp, Patrick, Robl, Werner und Matysik, Frank-Michael (2017) Development and application of a multipurpose electrodeposition cell configuration for studying plating processes on wafer specimen and for characterizing surface films by scanning electrochemical microscopy. Journal of Applied Electrochemistry 47 (12), S. 1305-1312. Volltext nicht vorhanden.

Diese Liste wurde erzeugt am Sat May 23 23:29:58 2026 CEST.
nach oben