Anzahl der Einträge: 2.
2022
Wu, Si-Si,
Huang, Teng-Xiang,
Xu, Xiaolan,
Bao, Yi-Fan,
Pei, Xin-Di,
Yao, Xu,
Cao, Mao-Feng,
Lin, Kai-Qiang ![ORCID 0000-0001-9609-749X](/images/orcid_16x16.gif)
,
Wang, Xiang ![ORCID 0000-0002-0251-4692](/images/orcid_16x16.gif)
,
Wang, Dongdong ![ORCID 0000-0002-0251-4692](/images/orcid_16x16.gif)
und
Ren, Bin
(2022)
Quantitatively Deciphering Electronic Properties of Defects at Atomically Thin Transition-Metal Dichalcogenides.
ACS Nano 16 (3), S. 4786-4794.
Volltext nicht vorhanden.
2019
Wu, Si-Si,
Huang, Teng-Xiang,
Lin, Kai-Qiang ![ORCID 0000-0001-9609-749X](/images/orcid_16x16.gif)
,
Yao, Xu,
Hu, Jing-Ting,
Tang, Ding-Liang,
Bao, Yi-Fan und
Ren, Bin ![ORCID 0000-0002-9821-5864](/images/orcid_16x16.gif)
(2019)
Photo-induced exfoliation of monolayer transition metal dichalcogenide semiconductors.
2D Materials 6 (4), 045052.
Volltext nicht vorhanden.
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