Einträge von Jeon, D. auf dem Publikationsserver

Giessibl, Franz J. (1999) Force Microscopy in Vacuum with Atomic Resolution. In: Kuk, Y. und Lyo, I. W. und Jeon, D. und Park, S. I., (eds.) Preliminary proceedings of STM : 10th Int'l Conference on Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy and Related Proximal Probe Microscopy ; 19 - 23 July, 1999, Seoul, Korea. , S. 19-20. Volltext nicht vorhanden.