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Mohajerani, M. S., Khachadorian, S., Schimpke, T., Nenstiel, C., Hartmann, J., Ledig, J., Avramescu, A., Strassburg, M., Hoffmann, A. und Waag, A. (2016) Evaluation of local free carrier concentrations in individual heavily-doped GaN:Si micro-rods by micro-Raman spectroscopy. Applied Physics Letters 108 (9), 091112. Volltext nicht vorhanden.

Diese Liste wurde erzeugt am Thu Nov 21 14:09:56 2024 CET.
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