Einträge von Leim, D. auf dem Publikationsserver

Schels, A., Leim, D. und Lang, Elmar (2002) Neural network models for error classification and manufacturing yield forecast. In: Proc. of Int. Conf. Modelling and Analysis of Semiconductor Manufacturing (MASM), Tempe, Arizona, 2002. , S. 296-301. Volltext nicht vorhanden.