Startseite UR

Publikationen von Leim, D.

Eine Stufe nach oben
Exportieren als
[feed] Atom [feed] RSS 1.0 [feed] RSS 2.0
Gruppieren nach: Datum | Dokumentenart | Keine Gruppierung
Gehe zu: Buchkapitel
Anzahl der Einträge: 1.

Buchkapitel

Schels, A., Leim, D. und Lang, Elmar (2002) Neural network models for error classification and manufacturing yield forecast. In: Proc. of Int. Conf. Modelling and Analysis of Semiconductor Manufacturing (MASM), Tempe, Arizona, 2002. , S. 296-301. Volltext nicht vorhanden.

Diese Liste wurde erzeugt am Fri Mar 29 14:51:01 2024 CET.
  1. Universität

Universitätsbibliothek

Publikationsserver

Kontakt:

Publizieren: oa@ur.de
0941 943 -4239 oder -69394

Dissertationen: dissertationen@ur.de
0941 943 -3904

Forschungsdaten: datahub@ur.de
0941 943 -5707

Ansprechpartner