Anzahl der Einträge: 4.
2019
Rehmann, Mirko K.,
Kalyoncu, Yemliha B.,
Kisiel, Marcin,
Pascher, Nikola,
Giessibl, Franz J. ,
Müller, Fabian,
Watanabe, Kenji ,
Taniguchi, Takashi,
Meyer, Ernst,
Liu, Ming-Hao und
Zumbühl, Dominik M.
(2019)
Characterization of hydrogen plasma defined graphene edges.
Carbon 150, S. 417-424.
Volltext nicht vorhanden.
2015
Gross, Leo,
Schuler, Bruno,
Mohn, Fabian,
Moll, Nikolaj,
Repp, Jascha und
Meyer, Gerhard
(2015)
12. Atomic Resolution on Molecules with Functionalized Tips.
In:
Morita, Seizo und
Giessibl, Franz J. und
Meyer, Ernst und
Wiesendanger, Roland, (eds.)
Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 3.
NanoScience and Technology (12).
Springer International Publishing, S. 223-246.
ISBN 978-3-319-15587-6.
Volltext nicht vorhanden.
Morita, Seizo und
Giessibl, Franz J. und
Wiesendanger, Roland und
Meyer, Ernst, eds.
(2015)
Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 3.
NanoScience and Technology, (12).
Springer.
ISBN Hardcover 978-3-319-15587-6; eBook ISBN 978-3-319-15588-3.
Volltext nicht vorhanden.
2002
Giessibl, Franz J.
(2002)
2. Principle of NC-AFM.
In:
Morita, Seizo und
Wiesendanger, Roland und
Meyer, Ernst, (eds.)
Noncontact atomic force microscopy. Band 1.
Nanoscience and technology (2).
Springer, Berlin, S. 11-46.
ISBN 3-540-43117-9.
Volltext nicht vorhanden.
Diese Liste wurde erzeugt am Thu Jan 9 20:20:55 2025 CET.