Anzahl der Einträge: 4.
Artikel
Rehmann, Mirko K.,
Kalyoncu, Yemliha B.,
Kisiel, Marcin,
Pascher, Nikola,
Giessibl, Franz J. ![ORCID 0000-0002-5585-1326](/images/orcid_16x16.gif)
,
Müller, Fabian,
Watanabe, Kenji ![ORCID 0000-0003-3701-8119](/images/orcid_16x16.gif)
,
Taniguchi, Takashi,
Meyer, Ernst,
Liu, Ming-Hao ![ORCID 0000-0001-5602-4181](/images/orcid_16x16.gif)
und
Zumbühl, Dominik M.
(2019)
Characterization of hydrogen plasma defined graphene edges.
Carbon 150, S. 417-424.
Volltext nicht vorhanden.
Buchkapitel
Gross, Leo,
Schuler, Bruno,
Mohn, Fabian,
Moll, Nikolaj,
Repp, Jascha ![ORCID 0000-0003-2883-7083](/images/orcid_16x16.gif)
und
Meyer, Gerhard
(2015)
12. Atomic Resolution on Molecules with Functionalized Tips.
In:
Morita, Seizo und
Giessibl, Franz J. und
Meyer, Ernst und
Wiesendanger, Roland, (eds.)
Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 3.
NanoScience and Technology (12).
Springer International Publishing, S. 223-246.
ISBN 978-3-319-15587-6.
Volltext nicht vorhanden.
Giessibl, Franz J.
(2002)
2. Principle of NC-AFM.
In:
Morita, Seizo und
Wiesendanger, Roland und
Meyer, Ernst, (eds.)
Noncontact atomic force microscopy. Band 1.
Nanoscience and technology (2).
Springer, Berlin, S. 11-46.
ISBN 3-540-43117-9.
Volltext nicht vorhanden.
Buch
Morita, Seizo und
Giessibl, Franz J. und
Wiesendanger, Roland und
Meyer, Ernst, eds.
(2015)
Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 3.
NanoScience and Technology, (12).
Springer.
ISBN Hardcover 978-3-319-15587-6; eBook ISBN 978-3-319-15588-3.
Volltext nicht vorhanden.
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