Einträge von Morita, Seizo auf dem Publikationsserver

Gross, Leo, Schuler, Bruno, Mohn, Fabian, Moll, Nikolaj, Repp, Jascha und Meyer, Gerhard (2015) 12. Atomic Resolution on Molecules with Functionalized Tips. In: Morita, Seizo und Giessibl, Franz J. und Meyer, Ernst und Wiesendanger, Roland, (eds.) Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 3. NanoScience and Technology (12). Springer International Publishing, S. 223-246. ISBN 978-3-319-15587-6. Volltext nicht vorhanden.

Giessibl, Franz J. (2009) 6. Principles and Applications of the qPlus Sensor. In: Morita, Seizo und Giessibl, Franz J. und Wiesendanger, Roland, (eds.) Noncontact Atomic Force Microscopy : Volume 2. Springer, Berlin, S. 121-142. ISBN 978-3-642-01495-6. Volltext nicht vorhanden.

Morita, Seizo, Giessibl, Franz J., Sugawara, Yasuhiro, Hosoi, Hirotaka, Mukasa, Koichi, Sasahara, Akira und Onishi, Hiroshi (2005) 13. Noncontact Atomic Force Microscopy and its Related Topics. In: Bhushan, Bharat, (ed.) Nanotribology and Nanomechanics An Introduction. Springer, Berlin, S. 385-411. ISBN 978-3-540-24267-3. Volltext nicht vorhanden.

Giessibl, Franz J. (2002) 2. Principle of NC-AFM. In: Morita, Seizo und Wiesendanger, Roland und Meyer, Ernst, (eds.) Noncontact atomic force microscopy. Band 1. Nanoscience and technology (2). Springer, Berlin, S. 11-46. ISBN 3-540-43117-9. Volltext nicht vorhanden.

Morita, Seizo und Giessibl, Franz J. und Wiesendanger, Roland und Meyer, Ernst, eds. (2015) Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 3. NanoScience and Technology, (12). Springer. ISBN Hardcover 978-3-319-15587-6; eBook ISBN 978-3-319-15588-3. Volltext nicht vorhanden.

Morita, Seizo und Giessibl, Franz J. und Wiesendanger, Roland, eds. (2009) Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2. NanoScience and Technology. Springer, Heidelberg, Berlin. ISBN Hardcover 978-3-642-01494-9; eBook ISBN 978-3-642-01495-6; Softcover ISBN: 978-3-642-26070-4. Volltext nicht vorhanden.