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Einträge von Schowalter, M. auf dem Publikationsserver
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Gehe zu: 2012
Anzahl der Einträge: 2.
2012
Rosenauer, A., Müller, K., Mehrtens, T., Schowalter, M., Zweck, Josef, Fritz, R. und Volz, K.
(2012)
Measurement of Composition and Strain by STEM.
Microscopy and Microanalysis 18 Supl.2, S. 1804-0815.
Müller, K., Rosenauer, A., Schowalter, M., Zweck, Josef, Fritz, R. und Volz, K.
(2012)
Strain Measurement in Semiconductor Heterostructures by Scanning Transmission Electron Microscopy.
Microscopy and Microanalysis 18, S. 995-1009.
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