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Artikel
Rosenauer, A.,
Müller, K.,
Mehrtens, T.,
Schowalter, M.,
Zweck, Josef,
Fritz, R. und
Volz, K.
(2012)
Measurement of Composition and Strain by STEM.
Microscopy and Microanalysis 18 Supl.2, S. 1804-0815.
Müller, K.,
Rosenauer, A.,
Schowalter, M.,
Zweck, Josef,
Fritz, R. und
Volz, K.
(2012)
Strain Measurement in Semiconductor Heterostructures by Scanning Transmission Electron Microscopy.
Microscopy and Microanalysis 18, S. 995-1009.
Diese Liste wurde erzeugt am Sat Aug 17 00:08:21 2024 CEST.