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2012

Rosenauer, A., Müller, K., Mehrtens, T., Schowalter, M., Zweck, Josef, Fritz, R. und Volz, K. (2012) Measurement of Composition and Strain by STEM. Microscopy and Microanalysis 18 Supl.2, S. 1804-0815.

Müller, K., Rosenauer, A., Schowalter, M., Zweck, Josef, Fritz, R. und Volz, K. (2012) Strain Measurement in Semiconductor Heterostructures by Scanning Transmission Electron Microscopy. Microscopy and Microanalysis 18, S. 995-1009.

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