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Rosenauer, A., Müller, K., Mehrtens, T., Schowalter, M., Zweck, Josef, Fritz, R. und Volz, K.
(2012)
Measurement of Composition and Strain by STEM.
Microscopy and Microanalysis 18 Supl.2, S. 1804-0815.
Müller, K., Rosenauer, A. 
, Schowalter, M., Zweck, Josef, Fritz, R. und Volz, K.
(2012)
Strain Measurement in Semiconductor Heterostructures by Scanning Transmission Electron Microscopy.
Microscopy and Microanalysis 18, S. 995-1009.
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