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Publikationen von Kirpal, Dominik
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Anzahl der Einträge: 5.
2022
Kirpal, Dominik 
(2022)
Multimodale und multiaxiale Rasterkraftmikroskopie und Untersuchung der Defektheilung auf Kaliumbromid in Abhängigkeit der Luftfeuchtigkeit.
Dissertation, Universität Regensburg.
2021
Kirpal, Dominik, Qiu, Jinglan , Pürckhauer, Korbinian, Weymouth, Alfred J. , Metz, Michael und Giessibl, Franz J.
(2021)
Biaxial atomically resolved force microscopy based on a qPlus sensor operated simultaneously in the first flexural and length extensional modes.
Review of Scientific Instruments 92 (4), 043703.
2020
Pürckhauer, Korbinian, Maier, Simon, Merkel, Anja, Kirpal, Dominik und Giessibl, Franz J.
(2020)
Combined atomic force microscope and scanning tunneling microscope with high optical access achieving atomic resolution in ambient conditions.
Review of Scientific Instruments 91 (8), 083701.
Volltext nicht vorhanden.
(2020)
Combined atomic force microscope and scanning tunneling microscope with high optical access achieving atomic resolution in ambient conditions.
Review of Scientific Instruments 91 (8), 083701.
Volltext nicht vorhanden.
2019
Pürckhauer, Korbinian, Kirpal, Dominik, Weymouth, Alfred J. und Giessibl, Franz J.
(2019)
Analysis of Airborne Contamination on Transition Metal Dichalcogenides with Atomic Force Microscopy Revealing That Sulfur Is the Preferred Chalcogen Atom for Devices Made in Ambient Conditions.
ACS Applied Nano Materials 2 (5), S. 2593-2598.
Volltext nicht vorhanden.
und Giessibl, Franz J.
(2019)
Analysis of Airborne Contamination on Transition Metal Dichalcogenides with Atomic Force Microscopy Revealing That Sulfur Is the Preferred Chalcogen Atom for Devices Made in Ambient Conditions.
ACS Applied Nano Materials 2 (5), S. 2593-2598.
Volltext nicht vorhanden.
2016
Ooe, Hiroaki, Kirpal, Dominik, Wastl, Daniel S., Weymouth, Alfred J. , Toyoko, Arai und Giessibl, Franz J.
(2016)
Amplitude dependence of image quality in atomically-resolved bimodal atomic force microscopy.
Applied Physics Letters 109, S. 141603.
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