Einträge von Oppolzer, H. auf dem Publikationsserver

Eberl, Karl, Wegscheider, Werner, Abstreiter, Gerhard, Cerva, H. und Oppolzer, H. (1991) Symmetry properties of short period (001) Si/Ge superlattices. Superlattices and Microstructures 9 (1), S. 31-33. Zugang zum Volltext eingeschränkt.

Wegscheider, Werner, Eberl, Karl, Abstreiter, Gerhard, Cerva, Hans und Oppolzer, H. (1991) High-Resolution Imaging of Twin Intersections in Si/Ge Superlattices on Ge(001) Substrates. In: Cullis, Anthony G., (ed.) Microscopy of semiconducting materials 1991. Conference series, 117. Institute of Physics, Bristol, S. 21. ISBN 0-85498-406-2. Volltext nicht vorhanden.

Wegscheider, Werner, Eberl, Karl, Abstreiter, Gerhard, Cerva, H. und Oppolzer, H. (1990) Novel relaxation process in strained Si/Ge superlattices grown on Ge (001). Applied Physics Letters 57 (15), S. 1496-1498. Zugang zum Volltext eingeschränkt.

Wegscheider, Werner, Eberl, Karl, Cerva, H. und Oppolzer, H. (1989) Transmission electron microscopy of short-period Si/Ge strained-layer superlattices on Ge substrates. Applied Physics Letters 55 (5), S. 448. Zugang zum Volltext eingeschränkt.