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Publikationen von Schorer, R.
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Anzahl der Einträge: 5.
1993
Schorer, R., Wegscheider, Werner und Abstreiter, Gerhard
(1993)
Effect of compressive and tensile strain on misfit dislocation injection in SiGe epitaxial layers.
Journal of Vacuum Science & Technology B 11 (3), S. 1056-1063.
Zugang zum Volltext eingeschränkt.
Dondl, W., Lütjering, G., Wegscheider, Werner, Wilchelm, J., Schorer, R. und Abstreiter, Gerhard
(1993)
Sn and Sb segregation and their possible use as surfactant for short-period Si/Ge superlattices.
Journal of Crystal Growth 127 (1-4), S. 440-442.
Zugang zum Volltext eingeschränkt.
Olajos, Janos, Abstreiter, Gerhard, Schorer, R., Vogl, P. und Wegscheider, Werner
(1993)
Properties of Sn/Ge superlattices.
Semiconductor Science and Technology 8 (1S), S. 6-8.
Zugang zum Volltext eingeschränkt.
1992
Schorer, R., Wegscheider, Werner, Eberl, Karl, Kasper, E., Kibbel, H. und Abstreiter, Gerhard
(1992)
In-plane Raman scattering of [001]-grown Si/Ge superlattices.
Thin Solid Films 222 (1-2), S. 269-273.
Zugang zum Volltext eingeschränkt.
1991
Eberl, Karl, Wegscheider, Werner, Schorer, R. und Abstreiter, Gerhard
(1991)
Microscopic symmetry properties of (001) Si/Ge monolayer superlattices.
Physical Review B 43 (6), S. 5188-5191.
Zugang zum Volltext eingeschränkt.
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