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J

Jönen, H., Rossow, U., Bremers, H., Hoffmann, L., Brendel, M., Dräger, A. D., Schwaiger, S., Scholz, F., Thalmair, Johannes, Zweck, Josef und Hangleiter, A. (2011) Highly efficient light emission from stacking faults intersecting nonpolar GaInN quantum wells. Applied Physics Letters 99, 011901.

M

Müller, Knut, Ryll, Henning, Ordavo, Ivan, Ihle, Sebastian, Strüder, Lothar, Volz, Kerstin, Zweck, Josef, make_name_string expected hash reference und make_name_string expected hash reference (2012) Scanning transmission electron microscopy strain measurement from millisecond frames of a direct electron charge coupled device. Applied Physics Letters 101, S. 212110.

Müller, K., Rosenauer, A. , Schowalter, M., Zweck, Josef, Fritz, R. und Volz, K. (2012) Strain Measurement in Semiconductor Heterostructures by Scanning Transmission Electron Microscopy. Microscopy and Microanalysis 18, S. 995-1009.

R

Rosenauer, A., Müller, K., Mehrtens, T., Schowalter, M., Zweck, Josef, Fritz, R. und Volz, K. (2012) Measurement of Composition and Strain by STEM. Microscopy and Microanalysis 18 Supl.2, S. 1804-0815.

Z

Zabel, Thomas, Sircar, Narayan, Hauke, Norman, Zweck, Josef, Döblinger, Markus, Kaniber, Michael, Finley, J. J. , Abstreiter, Gerhard, Arakawa, Y. und Bougeard, Dominique (2013) Laterally self-ordered silicon-germanium islands with optimized confinement properties. Applied Physics Letters 103, 063105.

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