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Anzahl der Einträge in dieser Kategorie: 5.
J
Jönen, H., Rossow, U., Bremers, H., Hoffmann, L., Brendel, M., Dräger, A. D., Schwaiger, S., Scholz, F., Thalmair, Johannes, Zweck, Josef und Hangleiter, A. 
(2011)
Highly efficient light emission from stacking faults intersecting nonpolar GaInN quantum wells.
Applied Physics Letters 99, 011901.
M
Müller, Knut, Ryll, Henning, Ordavo, Ivan, Ihle, Sebastian, Strüder, Lothar, Volz, Kerstin, Zweck, Josef, make_name_string expected hash reference und make_name_string expected hash reference
(2012)
Scanning transmission electron microscopy strain measurement from millisecond frames of a direct electron charge coupled device.
Applied Physics Letters 101, S. 212110.
Müller, K., Rosenauer, A. , Schowalter, M., Zweck, Josef, Fritz, R. und Volz, K.
(2012)
Strain Measurement in Semiconductor Heterostructures by Scanning Transmission Electron Microscopy.
Microscopy and Microanalysis 18, S. 995-1009.
R
Rosenauer, A., Müller, K., Mehrtens, T., Schowalter, M., Zweck, Josef, Fritz, R. und Volz, K.
(2012)
Measurement of Composition and Strain by STEM.
Microscopy and Microanalysis 18 Supl.2, S. 1804-0815.
Z
Zabel, Thomas, Sircar, Narayan, Hauke, Norman, Zweck, Josef, Döblinger, Markus, Kaniber, Michael, Finley, J. J. , Abstreiter, Gerhard, Arakawa, Y. und Bougeard, Dominique
(2013)
Laterally self-ordered silicon-germanium islands with optimized confinement properties.
Applied Physics Letters 103, 063105.