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  - Institut für Experimentelle und Angewandte Physik (5)
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      - Lehrstuhl Professor Back (5)
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Anzahl der Einträge in dieser Kategorie: 5.

Applied Physics Letters

Zabel, Thomas, Sircar, Narayan, Hauke, Norman, Zweck, Josef, Döblinger, Markus, Kaniber, Michael, Finley, J. J.

, Abstreiter, Gerhard, Arakawa, Y. und Bougeard, Dominique (2013) Laterally self-ordered silicon-germanium islands with optimized confinement properties. Applied Physics Letters 103, 063105.

Müller, Knut, Ryll, Henning, Ordavo, Ivan, Ihle, Sebastian, Strüder, Lothar, Volz, Kerstin, Zweck, Josef, make_name_string expected hash reference und make_name_string expected hash reference

(2012) Scanning transmission electron microscopy strain measurement from millisecond frames of a direct electron charge coupled device. Applied Physics Letters 101, S. 212110.

Jönen, H., Rossow, U., Bremers, H., Hoffmann, L., Brendel, M., Dräger, A. D., Schwaiger, S., Scholz, F., Thalmair, Johannes, Zweck, Josef und Hangleiter, A.

(2011) Highly efficient light emission from stacking faults intersecting nonpolar GaInN quantum wells. Applied Physics Letters 99, 011901.

Microscopy and Microanalysis

Rosenauer, A., Müller, K., Mehrtens, T., Schowalter, M., Zweck, Josef, Fritz, R. und Volz, K. (2012) Measurement of Composition and Strain by STEM. Microscopy and Microanalysis 18 Supl.2, S. 1804-0815.

Müller, K., Rosenauer, A.

, Schowalter, M., Zweck, Josef, Fritz, R. und Volz, K. (2012) Strain Measurement in Semiconductor Heterostructures by Scanning Transmission Electron Microscopy. Microscopy and Microanalysis 18, S. 995-1009.

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