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Publikationen von Bracht, Hartmut
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Anzahl der Einträge: 4.
2022
Prüßing, Jan K., Böckendorf, Tim, Kipke, Felix, Xu, Jiushuai, Puranto, Prabowo, Lundsgaard Hansen, John, Bougeard, Dominique, Peiner, Erwin und Bracht, Hartmut
(2022)
Retarded boron and phosphorus diffusion in silicon nanopillars due to stress induced vacancy injection.
Journal of Applied Physics 131 (7).
Volltext nicht vorhanden.
2019
Prüßing, Jan K. 
, Hamdana, Gerry, Bougeard, Dominique, Peiner, Erwin und Bracht, Hartmut
(2019)
Quantitative scanning spreading resistance microscopy on n-type dopant diffusion profiles in germanium and the origin of dopant deactivation.
Journal of Applied Physics 125 (085105).
Prüßing, Jan K., Hamdana, Gerry, Bougeard, Dominique, Peiner, Erwin und Bracht, Hartmut
(2019)
Quantitative scanning spreading resistance microscopy on n-type dopant diffusion profiles in germanium and the origin of dopant deactivation.
Journal of Applied Physics 125 (8), 085105.
Volltext nicht vorhanden.
und Bracht, Hartmut
(2019)
Quantitative scanning spreading resistance microscopy on n-type dopant diffusion profiles in germanium and the origin of dopant deactivation.
Journal of Applied Physics 125 (8), 085105.
Volltext nicht vorhanden.
2017
Radek, Manuel, Liedke, Bartosz, Schmidt, Bernd, Voelskow, Matthias, Bischoff, Lothar, Hansen, John Lundsgaard, Larsen, Arne Nylandsted, Bougeard, Dominique, Böttger, Roman, Prucnal, Slawomir, Posselt, Matthias und Bracht, Hartmut
(2017)
Ion-Beam-Induced Atomic Mixing in Ge, Si, and GeSi, Studied by Means of Isotope Multilayer Structures.
Materials (MDPI) 10, S. 813.
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