Startseite UR
Publikationen von Bracht, Hartmut
 | Eine Stufe nach oben |
Gehe zu: Artikel
Anzahl der Einträge: 4.
Artikel
Prüßing, Jan K., Böckendorf, Tim, Kipke, Felix, Xu, Jiushuai, Puranto, Prabowo, Lundsgaard Hansen, John, Bougeard, Dominique, Peiner, Erwin und Bracht, Hartmut
(2022)
Retarded boron and phosphorus diffusion in silicon nanopillars due to stress induced vacancy injection.
Journal of Applied Physics 131 (7).
Volltext nicht vorhanden.
Prüßing, Jan K. 
, Hamdana, Gerry, Bougeard, Dominique, Peiner, Erwin und Bracht, Hartmut
(2019)
Quantitative scanning spreading resistance microscopy on n-type dopant diffusion profiles in germanium and the origin of dopant deactivation.
Journal of Applied Physics 125 (085105).
Prüßing, Jan K., Hamdana, Gerry, Bougeard, Dominique, Peiner, Erwin und Bracht, Hartmut
(2019)
Quantitative scanning spreading resistance microscopy on n-type dopant diffusion profiles in germanium and the origin of dopant deactivation.
Journal of Applied Physics 125 (8), 085105.
Volltext nicht vorhanden.
und Bracht, Hartmut
(2019)
Quantitative scanning spreading resistance microscopy on n-type dopant diffusion profiles in germanium and the origin of dopant deactivation.
Journal of Applied Physics 125 (8), 085105.
Volltext nicht vorhanden.
Radek, Manuel, Liedke, Bartosz, Schmidt, Bernd, Voelskow, Matthias, Bischoff, Lothar, Hansen, John Lundsgaard, Larsen, Arne Nylandsted, Bougeard, Dominique, Böttger, Roman, Prucnal, Slawomir, Posselt, Matthias und Bracht, Hartmut
(2017)
Ion-Beam-Induced Atomic Mixing in Ge, Si, and GeSi, Studied by Means of Isotope Multilayer Structures.
Materials (MDPI) 10, S. 813.
Universitätsbibliothek
Publikationsserver
Kontakt:
Publizieren: oa@ur.de
0941 943 -4239 oder -69394
Dissertationen: dissertationen@ur.de
0941 943 -3904
Forschungsdaten: datahub@ur.de
0941 943 -5707