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Tan, P. H., Bougeard, Dominique, Abstreiter, Gerhard und Brunner, K.
(2005)
Depth profile of strain and composition in Si/Ge dot multilayers by microscopic phonon Raman spectroscopy.
J. Appl. Phys. 98, S. 113517.
Tan, P. H., Bougeard, Dominique, Abstreiter, Gerhard und Brunner, K.
(2004)
Raman scattering of folded acoustic phonons in self-assembled Si/Ge dot superlattices.
Appl. Phys. Lett. 84, S. 2632.
Tan, P. H., Brunner, K., Bougeard, Dominique und Abstreiter, Gerhard
(2003)
Raman characterization of strain and composition in small-sized self-assembled Si/Ge dots.
Phys. Rev. B 68, S. 125302.
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