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Tan, P. H., Bougeard, Dominique, Abstreiter, Gerhard und Brunner, K. (2005) Depth profile of strain and composition in Si/Ge dot multilayers by microscopic phonon Raman spectroscopy. J. Appl. Phys. 98, S. 113517.

Tan, P. H., Bougeard, Dominique, Abstreiter, Gerhard und Brunner, K. (2004) Raman scattering of folded acoustic phonons in self-assembled Si/Ge dot superlattices. Appl. Phys. Lett. 84, S. 2632.

Bougeard, Dominique, Tan, P. H., Sabathil, M., Vogl, P., Abstreiter, Gerhard und Brunner, K. (2004) Resonant Raman scattering of discrete hole states in self-assembled Si/Ge quantum dots. Physica E 21, S. 312. Volltext nicht vorhanden.

Tan, P. H., Brunner, K., Bougeard, Dominique und Abstreiter, Gerhard (2003) Raman characterization of strain and composition in small-sized self-assembled Si/Ge dots. Phys. Rev. B 68, S. 125302.

Diese Liste wurde erzeugt am Thu Nov 21 12:49:11 2024 CET.

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